TIBCO Spotfire

半导体失效跨越批次、晶圆和 Die 层级时，如何对齐测试、缺陷、设备与制程数据，逐步缩小可疑范围。

芯片测试时间越来越长时，如何关联测试耗时、失效检出、Bin 和批次数据，筛选值得进一步验证的优化候选项。

半导体设备 OEE 下降时，如何把停机、产出、质量、设备状态和维护事件放到同一分析路径中，找到真正的损失来源。

说明 Spotfire 与 Python/R/TERR 之间的数据类型映射、日期时区和空值问题，帮助避免结果看似正常却口径错误。

对比计算列、图表表达式、表达式函数与数据函数的适用范围，帮助分析作者选择最简单且可维护的计算方式。

说明数据函数从脚本到注册、保存库和团队复用的基本流程，以及为什么不能在每份分析中重复复制脚本。

介绍数据函数的输入输出映射、自动刷新和单独会话等设置，帮助排查函数运行成功但结果不对的问题。

从业务计算、运行环境、复用方式与权限边界出发，说明 Spotfire 数据函数如何接入 Python、R 和 TERR。

说明导出整个分析、单页或图表到 PowerPoint 时的比例取舍、筛选器说明和演示前检查。

介绍表格、交叉表和格栅化图表导出 PDF 时的全部内容、标题重复与分页设置，避免把不可见行漏出报告。